Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 - MRS Proceedings
Hinta
€ 44,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus to 1. - 15. loka
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309 - MRS Proceedings
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
514 pages, black & white illustrations
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | torstai 5. kesäkuuta 2014 |
| ISBN13 | 9781107409484 |
| Tuottaja | Cambridge University Press |
| Sivujen määrä | 514 |
| Mitta | 152 × 229 × 26 mm · 812 g (Arvioitu paino) |
| Kieli | Englanti |
| Toimittaja | Filter, William F. |
| Toimittaja | Frost, Harold J. (Dartmouth College, New Hampshire) |
| Toimittaja | Ho, Paul S. (University of Texas, Austin) |
| Toimittaja | Rodbell, Kenneth P. (IBM T J Watson Research Center, New York) |
