Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing - Erik Larsson - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402032073 - maanantai 7. marraskuuta 2005
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

Erik Larsson

Hinta
Kč 3.647

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ti - ke 4. - 12. marras

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Löytyy myös muodossa:

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.

388 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä maanantai 7. marraskuuta 2005
ISBN13 9781402032073
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 388
Mitta 156 × 232 × 23 mm   ·   1,09 kg
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Erik Larsson ( Esim. Hardcover Book , Paperback Book Ja PDF )