High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics - Ullrich Pietsch - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923073 - maanantai 12. joulukuuta 2011
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics 2nd ed. 2004. Softcover reprint of the original 2n edition

Hinta
€ 92,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - pe 19. - 27. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Saat ilmoituksen artistin Ullrich Pietsch uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.


408 pages, 389 black & white illustrations, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä maanantai 12. joulukuuta 2011
ISBN13 9781441923073
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 408
Mitta 155 × 235 × 22 mm   ·   594 g
Kieli Englanti  

Lisää samalta julkaisijalta