Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics Ullrich Pietsch 2nd ed. 2004. Softcover reprint of the original 2n edition
Hinta
€ 92,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus to - pe 19. - 27. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Saat ilmoituksen artistin Ullrich Pietsch uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics
Ullrich Pietsch
During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.
408 pages, 389 black & white illustrations, biography
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | maanantai 12. joulukuuta 2011 |
| ISBN13 | 9781441923073 |
| Tuottaja | Springer-Verlag New York Inc. |
| Sivujen määrä | 408 |
| Mitta | 155 × 235 × 22 mm · 594 g |
| Kieli | Englanti |