Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Manoj Sachdev - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441942852 - keskiviikko 10. marraskuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Manoj Sachdev
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007 edition

Hinta
€ 205,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 14. - 22. loka
Saat ilmoituksen artistin Manoj Sachdev uusista julkaisuista

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield.

328 pages, black & white illustrations

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 10. marraskuuta 2010
ISBN13 9781441942852
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 328
Mitta 155 × 235 × 18 mm   ·   494 g
Kieli Englanti  

Lisää samalta julkaisijalta

Katso kaikki joka sisältää Manoj Sachdev