Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability Stephan Eggersgluss 2012 edition
Hinta
€ 101,99
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus pe - ma 17. - 27. heinä
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability
Stephan Eggersgluss
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.
193 pages, 52 black & white tables, biography
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | tiistai 31. tammikuuta 2012 |
| Alunperin julkaistu | 2011 |
| ISBN13 | 9781441999757 |
| Tuottaja | Springer-Verlag New York Inc. |
| Sivujen määrä | 193 |
| Mitta | 155 × 235 × 12 mm · 476 g |
| Kieli | Englanti |
Mere med samme udgiver
Katso kaikki joka sisältää Stephan Eggersgluss ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )