High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441999757 - tiistai 31. tammikuuta 2012
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Hinta
€ 101,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ma - ti 20. - 28. heinä
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä tiistai 31. tammikuuta 2012
Alunperin julkaistu 2011
ISBN13 9781441999757
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 193
Mitta 155 × 235 × 12 mm   ·   476 g
Kieli Englanti  

Mere med samme udgiver