From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing - Jitendra B. Khare - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461285953 - maanantai 26. syyskuuta 2011
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1996 edition

Jitendra B. Khare

Hinta
₺ 4.769,60

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - pe 7. - 15. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

From Contamination to Defects, Faults and Yield Loss: Simulation and Applications - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1996 edition

Given such a high level of investment, it is critical for IC manufacturers to reduce manufacturing costs and get a better return on their investment. The most obvious method of reducing the manufacturing cost per die is to improve manufacturing yield.

150 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä maanantai 26. syyskuuta 2011
ISBN13 9781461285953
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 150
Mitta 155 × 235 × 9 mm   ·   249 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Jitendra B. Khare ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )