Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition
Joseph Goldstein
Hinta
€ 134,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ti 26. marras - to 5. joulu
Lisää iMusic-toivelistallesi
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition
Joseph Goldstein
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
709 pages, biography
Media | Kirjat Book |
Julkaisupäivämäärä | perjantai 31. toukokuuta 2013 |
ISBN13 | 9781461349693 |
Tuottaja | Springer-Verlag New York Inc. |
Sivujen määrä | 689 |
Mitta | 255 × 182 × 43 mm · 1,22 kg |
Kieli | English |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita Joseph Goldstein
Muutkin ovat ostaneet
Katso kaikki joka sisältää Joseph Goldstein ( Esim. Paperback Book , Hardcover Book , Book , CD Ja Audiobook (CD) )