Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis - Joseph Goldstein - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461349693 - perjantai 31. toukokuuta 2013
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

Joseph Goldstein

Hinta
€ 134,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ti 26. marras - to 5. joulu
Lisää iMusic-toivelistallesi

Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition

This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.


709 pages, biography

Media Kirjat     Book
Julkaisupäivämäärä perjantai 31. toukokuuta 2013
ISBN13 9781461349693
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 689
Mitta 255 × 182 × 43 mm   ·   1,22 kg
Kieli English  

Näytä kaikki

Lisää tuotteita Joseph Goldstein

Muutkin ovat ostaneet