Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science - Yusuf Leblebici - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461364290 - torstai 27. syyskuuta 2012
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition

Yusuf Leblebici

Hinta
$ 229,89

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ma - ti 18. - 26. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Hot-carrier Reliability of Mos Vlsi Circuits - the Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover Reprint of the Original 1st Ed. 1993 edition

229 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä torstai 27. syyskuuta 2012
ISBN13 9781461364290
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 229
Mitta 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Yusuf Leblebici ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )