Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science - Lawrence C Wagner - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461372318 - perjantai 9. marraskuuta 2012
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1999 edition

Lawrence C Wagner

Hinta
SEK 1.669

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ma 11. - 21. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques - The Springer International Series in Engineering and Computer Science Softcover reprint of the original 1st ed. 1999 edition

This "must have" reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits.

255 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 9. marraskuuta 2012
ISBN13 9781461372318
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 255
Mitta 155 × 235 × 14 mm   ·   385 g
Kieli English  
Toimittaja Wagner, Lawrence C.

Katso kaikki joka sisältää Lawrence C Wagner ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )