Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing - Angela Krstic - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461375616 - perjantai 12. lokakuuta 2012
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

Angela Krstic

Hinta
€ 150,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke 30. heinä - to 7. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of the original 1st ed. 1998 edition

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.

191 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 12. lokakuuta 2012
Alunperin julkaistu 1998
ISBN13 9781461375616
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 191
Mitta 155 × 235 × 11 mm   ·   299 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Angela Krstic ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )