Quantitative X-Ray Diffractometry - Lev S. Zevin - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461395379 - tiistai 27. joulukuuta 2011
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Lev S. Zevin
Quantitative X-Ray Diffractometry Softcover reprint of the original 1st ed. 1995 edition

Hinta
€ 104,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 3. - 11. kesä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases.

398 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä tiistai 27. joulukuuta 2011
ISBN13 9781461395379
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 372
Mitta 170 × 244 × 20 mm   ·   630 g
Kieli Englanti  
Toimittaja Mureinik, Inez

Katso kaikki joka sisältää Lev S. Zevin ( Esim. Paperback Book )