Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1 - Otto Meyer - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588788 - perjantai 31. toukokuuta 2013
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Otto Meyer
Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 1 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Hinta
€ 54,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 7. - 15. loka
Saat ilmoituksen artistin Otto Meyer uusista julkaisuista

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.

524 pages, black & white illustrations

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 31. toukokuuta 2013
ISBN13 9781461588788
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 494
Mitta 178 × 254 × 26 mm   ·   898 g
Kieli Englanti  

Lisää tuotteita Otto Meyer

Näytä kaikki

Muita saman sarjan

Lisää samalta julkaisijalta

Katso kaikki joka sisältää Otto Meyer