Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 - Otto Meyer - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461588818 - maanantai 30. tammikuuta 2012
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Ion Beam Surface Layer Analysis: Volume 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1976 edition

Hinta
€ 54,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 5. - 13. elo
Saat ilmoituksen artistin Otto Meyer uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

The major topic of that and the present conference was the material analysis with ion beams including backscattering and channeling, nuclear reactions and ion induced X-rays with emphasis on technical problems and no vel applications.


508 pages, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä maanantai 30. tammikuuta 2012
ISBN13 9781461588818
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 491
Mitta 178 × 254 × 26 mm   ·   879 g
Kieli Englanti  
Toimittaja Meyer, Otto

Lisää tuotteita Otto Meyer

Näytä kaikki

Muita saman sarjan

Lisää samalta julkaisijalta