Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - tiistai 4. kesäkuuta 2013
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Hinta
€ 194,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke 5. - 19. elo
Saat ilmoituksen artistin John T L Thong uusista julkaisuista

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä tiistai 4. kesäkuuta 2013
ISBN13 9781489915245
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 462
Mitta 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Kieli Englanti  
Toimittaja Thong, John T.L.

Lisää samalta julkaisijalta

Katso kaikki joka sisältää John T L Thong ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )