Bias Temperature Instability for Devices and Circuits -  - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493955299 - lauantai 1. lokakuuta 2016
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

Hinta
€ 111,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe 23. loka - ma 2. marras
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.


821 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä lauantai 1. lokakuuta 2016
ISBN13 9781493955299
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 810
Mitta 150 × 220 × 10 mm   ·   1,37 kg
Kieli Englanti  
Toimittaja Grasser, Tibor

Lisää samalta julkaisijalta