Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation - Norbert Seifert - Kirjat - now publishers Inc - 9781601983947 - lauantai 27. marraskuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Norbert Seifert
Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation

Vastaanota sähköposti kun titteli on saatavilla
Onko sinulla profiili? Kirjaudu sisään
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.

136 pages

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä lauantai 27. marraskuuta 2010
ISBN13 9781601983947
Tuottaja now publishers Inc
Sivujen määrä 136
Mitta 157 × 234 × 8 mm   ·   199 g
Kieli Englanti  

Katso kaikki joka sisältää Norbert Seifert ( Esim. Paperback Book )