Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation
Norbert Seifert
Hinta
₪ 383,90
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ti - to 8. - 17. heinä
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Radiation-induced Soft Error: A Chip-level Modeling - Foundations and Trends (R) in Electronic Design Automation
Norbert Seifert
A simulation-based methodology of chip-level radiation-induced soft error rates that is fast and reasonably accurate is crucial to the reliability and success of a final product. This book summarises selected publications that are deemed relevant by the author to enable a truly chip-level radiation-induced soft error rate estimation methodology.
136 pages
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | lauantai 27. marraskuuta 2010 |
| ISBN13 | 9781601983947 |
| Tuottaja | now publishers Inc |
| Sivujen määrä | 136 |
| Mitta | 157 × 234 × 8 mm · 199 g |
| Kieli | English |
Katso kaikki joka sisältää Norbert Seifert ( Esim. Paperback Book )