Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection - Fred Stevie - Kirjat - Momentum Press - 9781606505885 - tiistai 15. syyskuuta 2015
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Fred Stevie
Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization - Materials Characterization and Analysis Collection

Hinta
Mex$ 1.295,80

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - ma 4. - 15. joulu
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

150 pages

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä tiistai 15. syyskuuta 2015
ISBN13 9781606505885
Tuottaja Momentum Press
Sivujen määrä 150
Mitta 152 × 229 × 16 mm   ·   390 g
Kieli Englanti  

Katso kaikki joka sisältää Fred Stevie ( Esim. Paperback Book )