Design and Test Technology for Dependable Systems-on-chip (Premier Reference Source) - Raimund Ubar - Kirjat - IGI Global - 9781609602123 - torstai 31. maaliskuuta 2011
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Raimund Ubar
Design and Test Technology for Dependable Systems-on-chip (Premier Reference Source) 1. Painos

Hinta
Mex$ 4.147

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe 19. joulu - to 1. tammi 2026
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Designing reliable and dependable embedded systems has become increasingly important as the failure of these systems in an automotive, aerospace or nuclear application can have serious consequences.

Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip covers aspects of system design and efficient modelling, and also introduces various fault models and fault mechanisms associated with digital circuits integrated into System on Chip (SoC), Multi-Processor System-on Chip (MPSoC) or Network on Chip (NoC). This book provides insight into refined "classical" design and test topics and solutions for IC test technology and fault-tolerant systems.

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 31. maaliskuuta 2011
ISBN13 9781609602123
Tuottaja IGI Global
Sivujen määrä 578
Mitta 218 × 284 × 36 mm   ·   1,61 kg
Kieli Englanti  
Mukana Heinrich Theodor Vierhaus
Mukana Jaan Raik
Mukana Raimund Ubar
Näytä kaikki

Lisää tuotteita Raimund Ubar

Katso kaikki joka sisältää Raimund Ubar ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )