Design and Test Technology for Dependable Systems-on-chip (Premier Reference Source) - Raimund Ubar - Kirjat - IGI Global - 9781609602123 - torstai 31. maaliskuuta 2011
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Design and Test Technology for Dependable Systems-on-chip (Premier Reference Source) 1. Painos

Raimund Ubar

Hinta
zł 829,90

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - pe 16. - 25. heinä
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Design and Test Technology for Dependable Systems-on-chip (Premier Reference Source) 1. Painos

Designing reliable and dependable embedded systems has become increasingly important as the failure of these systems in an automotive, aerospace or nuclear application can have serious consequences.

Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip covers aspects of system design and efficient modelling, and also introduces various fault models and fault mechanisms associated with digital circuits integrated into System on Chip (SoC), Multi-Processor System-on Chip (MPSoC) or Network on Chip (NoC). This book provides insight into refined "classical" design and test topics and solutions for IC test technology and fault-tolerant systems.

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 31. maaliskuuta 2011
ISBN13 9781609602123
Tuottaja IGI Global
Sivujen määrä 578
Mitta 218 × 284 × 36 mm   ·   1,61 kg
Kieli English  
Mukana Heinrich Theodor Vierhaus
Mukana Jaan Raik
Mukana Raimund Ubar

Näytä kaikki

Lisää tuotteita Raimund Ubar