An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics - Sarah Fearn - Kirjat - Morgan & Claypool Publishers - 9781643279107 - perjantai 16. lokakuuta 2015
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics

Sarah Fearn

Hinta
Kč 3.098

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ti 18. - 29. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science - IOP Concise Physics

66 pages

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä perjantai 16. lokakuuta 2015
ISBN13 9781643279107
Tuottaja Morgan & Claypool Publishers
Sivujen määrä 66
Mitta 340 g

Katso kaikki joka sisältää Sarah Fearn ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )