Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology - IOP Concise Physics
David C. Cox
Hinta
$ 123,74
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus to 24. heinä - ma 4. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology - IOP Concise Physics
David C. Cox
This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.
104 pages
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | torstai 1. lokakuuta 2015 |
| ISBN13 | 9781681740201 |
| Tuottaja | Morgan & Claypool Publishers |
| Sivujen määrä | 104 |
| Mitta | 253 × 178 × 8 mm · 163 g |
| Kieli | English |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita David C. Cox
Katso kaikki joka sisältää David C. Cox ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )