Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications 1. Painos
Lee, Myeongkyu (Yonsei University, Korea)
Hinta
Ft 38.744
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ti 11. - 18. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications 1. Painos
Lee, Myeongkyu (Yonsei University, Korea)
This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of the book. Part 2 describes how
302 pages, 219 Illustrations, black and white
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | keskiviikko 31. maaliskuuta 2021 |
| ISBN13 | 9781774635933 |
| Tuottaja | Apple Academic Press Inc. |
| Sivujen määrä | 302 |
| Mitta | 228 × 150 × 19 mm · 438 g |
| Kieli | English |