Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Kirjat - Springer London Ltd - 9781848820586 - maanantai 1. joulukuuta 2008
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

Hinta
€ 154,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 18. - 26. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Saat ilmoituksen artistin Edmund G. Seebauer uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä maanantai 1. joulukuuta 2008
ISBN13 9781848820586
Tuottaja Springer London Ltd
Sivujen määrä 298
Mitta 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
Kieli Englanti  

Lisää samalta julkaisijalta