Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Edmund G. Seebauer 2009 edition
Hinta
€ 154,99
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - to 18. - 26. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Saat ilmoituksen artistin Edmund G. Seebauer uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes
Edmund G. Seebauer
"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.
298 pages, 30 black & white tables, biography
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | maanantai 1. joulukuuta 2008 |
| ISBN13 | 9781848820586 |
| Tuottaja | Springer London Ltd |
| Sivujen määrä | 298 |
| Mitta | 155 × 235 × 25 mm · 635 g |
| Kieli | Englanti |