Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques - Behnam Ghavami - Kirjat - Springer Nature Switzerland AG - 9783030516123 - torstai 14. lokakuuta 2021
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Behnam Ghavami
Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques 2021 edition

Hinta
A$ 91,84

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 10. - 18. joulu
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Löytyy myös muodossa:

Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

114 pages, 50 Tables, color; 9 Illustrations, color; 30 Illustrations, black and white; XIII, 114 p.

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä torstai 14. lokakuuta 2021
ISBN13 9783030516123
Tuottaja Springer Nature Switzerland AG
Sivujen määrä 114
Mitta 150 × 220 × 10 mm   ·   209 g
Kieli Saksa  

Katso kaikki joka sisältää Behnam Ghavami ( Esim. Paperback Book Ja Hardcover Book )