Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques Sebastian Huhn 2021 edition
Hinta
€ 114,99
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - to 14. - 22. loka
Saat ilmoituksen artistin Sebastian Huhn uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Sebastian Huhn
This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.
164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | tiistai 20. huhtikuuta 2021 |
| ISBN13 | 9783030692087 |
| Tuottaja | Springer Nature Switzerland AG |
| Sivujen määrä | 164 |
| Mitta | 150 × 220 × 20 mm · 439 g |
| Kieli | Saksa |