Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - Kirjat - Springer International Publishing AG - 9783031442353 - perjantai 7. helmikuuta 2025
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

Hinta
€ 67,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - pe 8. - 16. loka
Saat ilmoituksen artistin Fangzhou Xia uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 7. helmikuuta 2025
ISBN13 9783031442353
Tuottaja Springer International Publishing AG
Sivujen määrä 366
Mitta 150 × 220 × 10 mm   ·   664 g
Kieli Saksa  

Lisää samalta julkaisijalta