Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques - Sayil - Kirjat - Springer International Publishing AG - 9783319696720 - maanantai 4. joulukuuta 2017
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques 1st ed. 2018 edition

Hinta
€ 104,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 14. - 22. loka
Saat ilmoituksen artistin Sayil uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.


93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.

Media Kirjat     Book
Julkaisupäivämäärä maanantai 4. joulukuuta 2017
ISBN13 9783319696720
Tuottaja Springer International Publishing AG
Sivujen määrä 93
Mitta 150 × 220 × 20 mm   ·   343 g
Kieli Saksa  

Lisää samalta julkaisijalta