Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques Sayil 1st ed. 2018 edition
Hinta
€ 104,99
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - to 14. - 22. loka
Saat ilmoituksen artistin Sayil uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Contactless VLSI Measurement and Testing Techniques
Sayil
The author highlights the inherent difficulties encountered with the mechanical probe and testability design approaches for functional and internal fault testing and shows how contactless testing might resolve many of the challenges associated with conventional mechanical wafer testing.
93 pages, 11 Illustrations, color; 23 Illustrations, black and white; V, 93 p. 34 illus., 11 illus.
| Media | Kirjat Book |
| Julkaisupäivämäärä | maanantai 4. joulukuuta 2017 |
| ISBN13 | 9783319696720 |
| Tuottaja | Springer International Publishing AG |
| Sivujen määrä | 93 |
| Mitta | 150 × 220 × 20 mm · 343 g |
| Kieli | Saksa |