Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics - Otwin Breitenstein - Kirjat - Springer International Publishing AG - 9783319998244 - tiistai 22. tammikuuta 2019
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Third Edition 2018 edition

Otwin Breitenstein

Hinta
SEK 1.749

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ma 7. - 17. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Löytyy myös muodossa:

Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Third Edition 2018 edition

Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems.

321 pages, 68 Illustrations, color; 55 Illustrations, black and white; XVIII, 321 p. 123 illus., 68

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä tiistai 22. tammikuuta 2019
ISBN13 9783319998244
Tuottaja Springer International Publishing AG
Sivujen määrä 321
Mitta 657 g
Kieli German  

Katso kaikki joka sisältää Otwin Breitenstein ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )