
Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Third Edition 2018 edition
Otwin Breitenstein
Hinta
SEK 1.749
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus pe - ma 7. - 17. marras


Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics Third Edition 2018 edition
Otwin Breitenstein
Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems.
321 pages, 68 Illustrations, color; 55 Illustrations, black and white; XVIII, 321 p. 123 illus., 68
Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
Julkaisupäivämäärä | tiistai 22. tammikuuta 2019 |
ISBN13 | 9783319998244 |
Tuottaja | Springer International Publishing AG |
Sivujen määrä | 321 |
Mitta | 657 g |
Kieli | German |
Katso kaikki joka sisältää Otwin Breitenstein ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )