Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences Shih-Lin Chang 2004 edition
Hinta
€ 154,99
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - to 9. - 17. syys
Saat ilmoituksen artistin Shih-Lin Chang uusista julkaisuista
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai
Löytyy myös muodossa:
X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences
Shih-Lin Chang
X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.
436 pages, biography
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | torstai 24. kesäkuuta 2004 |
| ISBN13 | 9783540211969 |
| Tuottaja | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Sivujen määrä | 436 |
| Mitta | 156 × 234 × 25 mm · 807 g |
| Kieli | Saksa |
Lisää samalta julkaisijalta
Katso kaikki joka sisältää Shih-Lin Chang ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )