X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences - Shih-Lin Chang - Kirjat - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540211969 - torstai 24. kesäkuuta 2004
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences 2004 edition

Shih-Lin Chang

Hinta
€ 149,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 17. - 25. syys

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

X-Ray Multiple-Wave Diffraction: Theory and Application - Springer Series in Solid-State Sciences 2004 edition

X-ray multiple-wave diffraction, sometimes called multiple diffraction or N-beam diffraction, results from the scattering of X-rays from periodic two or higher-dimensional structures, like 2-d and 3-d crystals and even quasi crystals.

436 pages, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 24. kesäkuuta 2004
ISBN13 9783540211969
Tuottaja Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Sivujen määrä 436
Mitta 156 × 234 × 25 mm   ·   807 g
Kieli German  

Katso kaikki joka sisältää Shih-Lin Chang ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )