Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science - Stefan Rein - Kirjat - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540253037 - torstai 23. kesäkuuta 2005
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science 2005 edition

Stefan Rein

Hinta
€ 296,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ma - ti 22. - 30. syys

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Lifetime Spectroscopy: A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications - Springer Series in Materials Science 2005 edition

Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.

492 pages, 29 black & white tables, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 23. kesäkuuta 2005
ISBN13 9783540253037
Tuottaja Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Sivujen määrä 492
Mitta 241 × 166 × 37 mm   ·   839 g
Kieli English   German  
Näytä kaikki

Lisää tuotteita Stefan Rein

Katso kaikki joka sisältää Stefan Rein ( Esim. Paperback Book Ja Hardcover Book )