Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Kirjat - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - tiistai 21. helmikuuta 2006
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

Hinta
€ 181,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to 13. - 27. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä tiistai 21. helmikuuta 2006
Alunperin julkaistu 2005
ISBN13 9783540262428
Tuottaja Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Sivujen määrä 420
Mitta 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Kieli Saksa  
Toimittaja Bhushan, Bharat
Toimittaja Fuchs, Harald

Lisää samalta julkaisijalta