Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics - Otwin Breitenstein - Kirjat - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642024160 - sunnuntai 5. syyskuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics 2nd ed. 2010 edition

Otwin Breitenstein

Hinta
Mex$ 2.226,40

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe 26. syys - ma 6. loka

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials - Springer Series in Advanced Microelectronics 2nd ed. 2010 edition

This is the first book on lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. This useful introduction and guide reviews various experimental approaches to lock-in thermography, with special emphasis on the lock-in IR thermography developed by the authors themselves.

250 pages, 56 black & white illustrations, 33 colour illustrations, biography

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä sunnuntai 5. syyskuuta 2010
ISBN13 9783642024160
Tuottaja Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Sivujen määrä 258
Mitta 155 × 235 × 20 mm   ·   498 g
Kieli French  

Katso kaikki joka sisältää Otwin Breitenstein ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )