Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Kirjat - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065699 - perjantai 12. helmikuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Hinta
€ 111,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ti - ke 7. - 15. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Löytyy myös muodossa:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

420 pages, 17 black & white tables, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä perjantai 12. helmikuuta 2010
ISBN13 9783642065699
Tuottaja Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Sivujen määrä 420
Mitta 155 × 235 × 23 mm   ·   698 g
Kieli Saksa  
Toimittaja Bhushan, Bharat
Toimittaja Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver