
Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition
Peter Pichler
Hinta
CA$ 529,64
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - pe 18. - 27. kesä
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Löytyy myös muodossa:
Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon - Computational Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2004 edition
Peter Pichler
This book contains the first comprehensive review of intrinsic point defects, impurities and their complexes in silicon.
554 pages, 40 black & white illustrations, biography
Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
Julkaisupäivämäärä | torstai 1. marraskuuta 2012 |
ISBN13 | 9783709172049 |
Tuottaja | Springer Verlag GmbH |
Sivujen määrä | 554 |
Mitta | 178 × 254 × 30 mm · 1,01 kg |
Kieli | English |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita Peter Pichler
Katso kaikki joka sisältää Peter Pichler ( Esim. Book , Hardcover Book Ja Paperback Book )