High Performance Gan Light-emitting Diode: a Reliability Study - Zonglin Li - Kirjat - LAP LAMBERT Academic Publishing - 9783844395297 - tiistai 17. toukokuuta 2011
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Zonglin Li
High Performance Gan Light-emitting Diode: a Reliability Study

Hinta
€ 45,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ma 20. - 30. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Saat ilmoituksen artistin Zonglin Li uusista julkaisuista

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

The reliability of InGaN/GaN light emitting diodes (LEDs) with different emission wavelengths and different geometries was studied. Device performances, like current-voltage characteristics, 1/f noise spectrum, leakage, static resistance, were measured. The devices underwent a 1000-hr constant-current stress test and their optical output degradation rate was examined. The results were explained by cross-related data.

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä tiistai 17. toukokuuta 2011
ISBN13 9783844395297
Tuottaja LAP LAMBERT Academic Publishing
Sivujen määrä 80
Mitta 150 × 5 × 226 mm   ·   137 g
Kieli Saksa  

Katso kaikki joka sisältää Zonglin Li