Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - - Kirjat - Springer, India, Private Ltd - 9788132234241 - sunnuntai 23. lokakuuta 2016
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

Hinta
Ft 40.914

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ma 11. - 21. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

269 pages, 17 Tables, black and white; 67 Illustrations, color; 134 Illustrations, black and white;

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä sunnuntai 23. lokakuuta 2016
ISBN13 9788132234241
Tuottaja Springer, India, Private Ltd
Sivujen määrä 269
Mitta 493 g
Toimittaja Mahapatra, Souvik