On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond - Andrej Rumiantsev - Kirjat - River Publishers - 9788770221122 - keskiviikko 31. heinäkuuta 2019
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond

Andrej Rumiantsev

Hinta
Kč 3.304

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - ma 14. - 25. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond

This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.

250 pages

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 31. heinäkuuta 2019
ISBN13 9788770221122
Tuottaja River Publishers
Sivujen määrä 278
Mitta 526 g

Katso kaikki joka sisältää Andrej Rumiantsev ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )