Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Reliability 1st ed. 2016 edition
Jiann-Shiun Yuan
Hinta
NOK 749
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus pe 23. touko - ke 4. kesä
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Reliability 1st ed. 2016 edition
Jiann-Shiun Yuan
The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.
106 pages, 101 black & white illustrations, biography
| Media | Kirjat Paperback Book (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä) |
| Julkaisupäivämäärä | torstai 21. huhtikuuta 2016 |
| ISBN13 | 9789811008825 |
| Tuottaja | Springer Verlag, Singapore |
| Sivujen määrä | 106 |
| Mitta | 155 × 235 × 6 mm · 1,83 kg |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita Jiann-Shiun Yuan
Katso kaikki joka sisältää Jiann-Shiun Yuan ( Esim. Book Ja Paperback Book )