Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits - Jayanthy - Kirjat - Springer Verlag, Singapore - 9789811324925 - keskiviikko 10. lokakuuta 2018
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits 1st ed. 2019 edition

Jayanthy

Hinta
DKK 1.048,96

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ma 15. - 25. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits 1st ed. 2019 edition

The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults.

156 pages, 30 Tables, color; 7 Illustrations, color; 42 Illustrations, black and white; XI, 156 p. 4

Media Kirjat     Book
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 10. lokakuuta 2018
ISBN13 9789811324925
Tuottaja Springer Verlag, Singapore
Sivujen määrä 156
Mitta 424 g

Katso kaikki joka sisältää Jayanthy ( Esim. Book )