Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Cher Ming Tan - Kirjat - Springer Verlag, Singapore - 9789814451208 - lauantai 4. toukokuuta 2013
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 2013 edition

Cher Ming Tan

Hinta
Íkr 7.566,90

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - to 12. - 20. marras
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 2013 edition

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

120 pages, 73 black & white illustrations, 2 colour illustrations, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä lauantai 4. toukokuuta 2013
ISBN13 9789814451208
Tuottaja Springer Verlag, Singapore
Sivujen määrä 103
Mitta 155 × 235 × 6 mm   ·   1,88 kg
Näytä kaikki

Lisää tuotteita Cher Ming Tan

Katso kaikki joka sisältää Cher Ming Tan ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )