Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition
Leendert M. Huisman
Hinta
₩ 163.570
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus pe - ma 15. - 25. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Löytyy myös muodossa:
Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition
Leendert M. Huisman
The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.
250 pages, 46 black & white illustrations, biography
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | tiistai 21. kesäkuuta 2005 |
| ISBN13 | 9780387249933 |
| Tuottaja | Springer-Verlag New York Inc. |
| Sivujen määrä | 250 |
| Mitta | 155 × 235 × 15 mm · 576 g |
| Kieli | English |
Katso kaikki joka sisältää Leendert M. Huisman ( Esim. Paperback Book Ja Hardcover Book )