Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing - Leendert M. Huisman - Kirjat - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441937674 - keskiviikko 8. joulukuuta 2010
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

Leendert M. Huisman

Hinta
€ 115,99

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ti 19. - 30. syys

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Data Mining and Diagnosing IC Fails - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

The second part contains all the mathematical details that are necessary to prove the validity of the analysis techniques, the existence of solutions to the problems that those techniques engender, and the correctness of several properties that were assumed in the first part.

250 pages, 46 black & white illustrations, biography

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 8. joulukuuta 2010
ISBN13 9781441937674
Tuottaja Springer-Verlag New York Inc.
Sivujen määrä 250
Mitta 155 × 235 × 14 mm   ·   385 g

Katso kaikki joka sisältää Leendert M. Huisman ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )