Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Applied Measurement with jMetrik 1. Painos
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Hinta
€ 236,49
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ma - ke 6. - 15. tammi 2025
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Löytyy myös muodossa:
Applied Measurement with jMetrik 1. Painos
Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.
55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | perjantai 27. kesäkuuta 2014 |
| ISBN13 | 9780415531955 |
| Tuottaja | Taylor & Francis Ltd |
| Sivujen määrä | 170 |
| Mitta | 152 × 229 × 15 mm · 362 g |
| Kieli | English |