Applied Measurement with jMetrik - Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Kirjat - Taylor & Francis Ltd - 9780415531955 - perjantai 27. kesäkuuta 2014
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Applied Measurement with jMetrik 1. Painos

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)

Hinta
€ 240,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus pe - ti 7. - 18. helmi

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Applied Measurement with jMetrik 1. Painos

Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.

55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä perjantai 27. kesäkuuta 2014
ISBN13 9780415531955
Tuottaja Taylor & Francis Ltd
Sivujen määrä 170
Mitta 152 × 229 × 15 mm   ·   362 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )