Applied Measurement with jMetrik - Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) - Kirjat - Taylor & Francis Ltd - 9780415531979 - keskiviikko 25. kesäkuuta 2014
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Applied Measurement with jMetrik 1. Painos

Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA)

Hinta
¥ 12.030,70

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ma - ke 2. - 11. kesä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Löytyy myös muodossa:

Applied Measurement with jMetrik 1. Painos

Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.

55 black & white illustrations, 4 black & white tables, 19 black & white line drawings

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä keskiviikko 25. kesäkuuta 2014
ISBN13 9780415531979
Tuottaja Taylor & Francis Ltd
Sivujen määrä 170
Mitta 229 × 153 × 9 mm   ·   266 g
Kieli English  

Katso kaikki joka sisältää Meyer, J. Patrick (University of Virginia, USA) ( Esim. Hardcover Book Ja Paperback Book )