CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Kirjat - Cambridge University Press - 9781107408326 - torstai 5. kesäkuuta 2014
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

Hinta
€ 44,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ti 4. - 18. elo

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

194 pages, black & white illustrations

Media Kirjat     Paperback Book   (Kirja pehmeillä kansilla ja liimatulla selällä)
Julkaisupäivämäärä torstai 5. kesäkuuta 2014
ISBN13 9781107408326
Tuottaja Cambridge University Press
Sivujen määrä 194
Mitta 152 × 229 × 10 mm   ·   412 g   (Arvioitu paino)
Kieli Englanti  
Toimittaja Butterbaugh, Jeffery W.
Toimittaja Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Toimittaja Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Toimittaja Rachmady, Willy
Toimittaja Taylor, Bill

Lisää samalta julkaisijalta