CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings - - Kirjat - Materials Research Society - 9781605111285 - torstai 19. marraskuuta 2009
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 - MRS Proceedings

Hinta
€ 129,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to 1. - 15. loka

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

Ei vielä arvioitu

Löytyy myös muodossa:

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

179 pages, illustrations

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä torstai 19. marraskuuta 2009
ISBN13 9781605111285
Tuottaja Materials Research Society
Sivujen määrä 194
Mitta 160 × 236 × 18 mm   ·   432 g
Kieli Englanti  
Toimittaja Butterbaugh, Jeffery W.
Toimittaja Demkov, Alexander A. (University of Texas, Austin)
Toimittaja Harris, H. Rusty (Texas A & M University)
Toimittaja Rachmady, Willy
Toimittaja Taylor, Bill

Lisää samalta julkaisijalta