Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties - Pierre-Richard Dahoo - Kirjat - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306401 - tiistai 16. maaliskuuta 2021
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

Pierre-Richard Dahoo

Hinta
NOK 1.919

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - pe 16. - 25. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

256 pages

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä tiistai 16. maaliskuuta 2021
ISBN13 9781786306401
Tuottaja ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Sivujen määrä 256
Mitta 10 × 10 × 10 mm   ·   526 g
Kieli English  
Näytä kaikki

Lisää tuotteita Pierre-Richard Dahoo

Katso kaikki joka sisältää Pierre-Richard Dahoo ( Esim. Hardcover Book )