Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - Kirjat - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - tiistai 6. huhtikuuta 2021
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Pierre-Richard Dahoo
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Hinta
€ 161,49

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus to - ma 8. - 19. tammi 2026
Joululahjoja voi vaihtaa 31.1. asti

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
tai

288 pages

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä tiistai 6. huhtikuuta 2021
ISBN13 9781786306876
Tuottaja ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Sivujen määrä 288
Mitta 150 × 220 × 20 mm   ·   562 g
Kieli Englanti  

Lisää tuotteita Pierre-Richard Dahoo

Näytä kaikki

Katso kaikki joka sisältää Pierre-Richard Dahoo ( Esim. Hardcover Book )