Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method - Pierre-Richard Dahoo - Kirjat - ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc - 9781786306876 - tiistai 6. huhtikuuta 2021
Mikäli Kansi ja otsikko eivät täsmää, on otsikko oikein

Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

Pierre-Richard Dahoo

Hinta
A$ 292,59

Tilattu etävarastosta

Arvioitu toimitus ke - pe 16. - 25. heinä

Asiakkaamme sanovat:

14 päivän palautusoikeus
Huippuarvosana Trustpilotissa
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller

Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and RBDO Method

288 pages

Media Kirjat     Hardcover Book   (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella)
Julkaisupäivämäärä tiistai 6. huhtikuuta 2021
ISBN13 9781786306876
Tuottaja ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc
Sivujen määrä 288
Mitta 10 × 10 × 10 mm   ·   562 g
Kieli English  
Näytä kaikki

Lisää tuotteita Pierre-Richard Dahoo

Katso kaikki joka sisältää Pierre-Richard Dahoo ( Esim. Hardcover Book )