Vinkkaa tuotetta kavereillesi:
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Pierre-Richard Dahoo
Hinta
₩ 262.240
Tilattu etävarastosta
Arvioitu toimitus ke - pe 6. - 15. elo
Lisää iMusic-toivelistallesi
Eller
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Pierre-Richard Dahoo
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
316 pages, black & white illustrations
| Media | Kirjat Hardcover Book (Sidottu kirja kovilla kansilla sekä suojakannella) |
| Julkaisupäivämäärä | perjantai 12. elokuuta 2016 |
| ISBN13 | 9781848219366 |
| Tuottaja | ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc |
| Sivujen määrä | 316 |
| Mitta | 165 × 241 × 23 mm · 612 g |
Näytä kaikki
Lisää tuotteita Pierre-Richard Dahoo
Katso kaikki joka sisältää Pierre-Richard Dahoo ( Esim. Hardcover Book )